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霍尔效应测试系统

采用Van der pauw，Hall Bar 1221 和1331模型，测试半导体材料、透明氧化物材料、太阳能电池等材料的电阻、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度等。室温下可进行Gate测量。配有高温和低温附件。

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微波暗室

提供一个模拟电磁波自由空间传播特性的空间，隔阻外来电磁波对试验的干扰，同时减少室内电磁反射场。为材料测试提供所需的电磁环境，提高被测的精准度和效率。

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压电材料多场测试系统

在不同温度下对材料的压电性能进行表征。

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多样品温谱频谱测试系统

|Z|、θz、|Y|、θY、R、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、Rp、Rs、D、Q等。

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铁电测试系统

该系统可广泛地应用于各种铁电/压电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。仪器为完全的模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，使得TF Analyzer 2000E具有优异的扩展性。可测电滞回线、漏电流、电流-偏压、电容-偏压、极化强度，老化特性与疲劳特性等参数。

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宽频介电阻抗谱仪

|Z|、θz、|Y|、θY、R、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、Rp、Rs、D、Q、TSDC等。

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